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在排除外界干擾，正確用介質(zhì)損耗測試儀測出tgδ值后，還需對(duì)tgδ的數(shù)值進(jìn)行正確分析判斷。為此，就要了解tgδ與哪些因素影響有關(guān)。根據(jù)tgδ測量的特點(diǎn)，除不考慮頻率的影響（因施加電壓頻率基本不變）外，還應(yīng)注意以下幾個(gè)方面的問題。
1、溫度的影響
溫度對(duì)tgδ有直接影響，影響的程度隨材料、結(jié)構(gòu)的不同而異。一般情況下，tgδ是隨溫度上升而增加的?，F(xiàn)場試驗(yàn)時(shí)，設(shè)備溫度是變化的，為便于比較，應(yīng)將不同溫度下測得的tgδ值換算至20℃。例如，25℃時(shí)測得絕緣油的介質(zhì)損失角為0.6％，查附錄B得25℃時(shí)的系數(shù)為0.79，因此20℃時(shí)的絕緣油介質(zhì)損失角即為tgδ20＝0.6％×0.78＝0.47％。
應(yīng)當(dāng)指出，由于被試品真實(shí)的平均溫度是很難準(zhǔn)確測定的，換算系數(shù)也不是十分符合實(shí)際，故換算后往往有很大誤差。因此，應(yīng)盡可能在10～30℃的溫度下進(jìn)行測量。
有些絕緣材料在溫度低于某一臨界值時(shí)，其tgδ可能隨溫度的降低而上升；而潮濕的材料在0℃以下時(shí)水分凍結(jié)，tgδ會(huì)降低。所以，過低溫度下測得的tgδ不能反映真實(shí)的絕緣狀況，容易導(dǎo)致錯(cuò)誤的結(jié)論，因此，測量tgδ應(yīng)在不低于5℃時(shí)進(jìn)行。
油紙絕緣的介質(zhì)損耗與溫度關(guān)系取決于油與紙的綜合性能。良好的絕緣油是非極性介質(zhì)，油的電 主要是電導(dǎo)損耗，它隨溫度升高而增大。而紙是極性介質(zhì)，其年 由偶極子的松弛損耗所決定，一般情況下，紙的培 在一40～60℃的溫度范圍內(nèi)隨溫度升高而減小。因此，不含導(dǎo)電雜質(zhì)和水分的良好油紙絕緣，在此溫度范圍內(nèi)其邊 沒有明顯變化。對(duì)于電流互感器與油紙?zhí)坠?，由于含油量不大，其主絕緣是油紙絕緣。因此，對(duì)把 進(jìn)行溫度換算時(shí)，不宜采用充油設(shè)備的溫度換算方式，因?yàn)槠錅囟葥Q算系數(shù)不符合油紙絕緣的tgδ隨溫度變化的真實(shí)情況。
當(dāng)絕緣中殘存有較多水分與雜質(zhì)時(shí)，tgδ與溫度關(guān)系就不同于上述情況，tgδ隨溫度升高明顯增加。如兩臺(tái)220kV電流互感器通入50％額定電流，加溫9h，測取通入電流前后tgδ的變化，tgδ初始值為0.53％的一臺(tái)無變化，tgδ初始值為0.8％的一臺(tái)則上升為1.1％。實(shí)際上初始值為0.8％的已屬非良好絕緣，故tgδ隨溫度上升而增加。說明當(dāng)常溫下測得的tgδ較大，在高溫下tgδ又明顯增加時(shí)，則應(yīng)認(rèn)為絕緣存在缺陷。
2、試驗(yàn)電壓的影響
良好絕緣的tgδ不隨電壓的升高而明顯增加。若絕緣內(nèi)部有缺陷，則其tgδ將隨試驗(yàn)電壓的升高而明顯增加。圖表示了幾種典型的情況：
曲線1是絕緣良好的情況，其tgδ幾乎不隨電壓的升高而增加，僅在電壓很高時(shí)才略有增加。
曲線2為絕緣老化時(shí)的示例。在氣隙起始游離之前，tgδ比良好絕緣的低；過了起始游離點(diǎn)后則迅速升高，而且起始游離電壓也比良好絕緣的低。
曲線3為絕緣中存在氣隙的示例。在試驗(yàn)電壓未達(dá)到氣體起始游離之前，tgδ保持穩(wěn)定，但電壓增高氣隙游離后，tgδ急劇增大，曲線出現(xiàn)轉(zhuǎn)折。當(dāng)逐步降壓后測量時(shí)，由于氣體放電可能已隨時(shí)間和電壓的增加而增強(qiáng)，故tgδ高于升壓時(shí)相同電壓下的值。直至氣體放電終止，曲線才又重合，因而形成閉口環(huán)路狀。
曲線4是絕緣受潮的情況。在較低電壓下，tgδ已較大，隨電壓的升高tgδ繼續(xù)增大；在逐步降壓時(shí)，由于介質(zhì)損失的增大已使介質(zhì)發(fā)熱溫度升高，所以吃 不能與原數(shù)值相重合，而以高于升壓時(shí)的數(shù)值下降，形成開口環(huán)狀曲線。
從曲線4可明顯看到，tgδ與濕度的關(guān)系很大。介質(zhì)吸濕后，電導(dǎo)損耗增大，還會(huì)出現(xiàn)夾層極化，因而tgδ將大為增加。這對(duì)于多孔的纖維性材料（如紙等）以及對(duì)于極性電介質(zhì)，效果特別顯著。
綜上所述，tgδ與介質(zhì)的溫度、濕度、內(nèi)部有元?dú)馀?、缺陷部分體積大小等有關(guān)，通過tgδ的測量發(fā)現(xiàn)的缺陷主要是：設(shè)備普遍受潮，絕緣油或固體有機(jī)絕緣材料的普遍老化；對(duì)小電容量設(shè)備，還可發(fā)現(xiàn)局部缺陷。必要時(shí)，可以作出tgδ與電壓的關(guān)系曲線，以便分析絕緣中是否夾雜較多氣隙。對(duì)tgδ值進(jìn)行判斷的基本方法除應(yīng)與有關(guān)“標(biāo)準(zhǔn)”規(guī)定值比較外，還應(yīng)與歷年值相比較，觀察其發(fā)展趨勢。根據(jù)設(shè)備的具體情況，有時(shí)即使數(shù)值仍低于標(biāo)準(zhǔn)，但增長迅速，也應(yīng)引起充分注意。此外，還可與同類設(shè)備比較，看是否有明顯差異。在比較時(shí)，除tgδ值外，還應(yīng)注意Cx值的變化情況。如發(fā)生明顯變化，可配合其他試驗(yàn)方法，如絕緣油的分析、直流泄漏試驗(yàn)或提高測量tgδ值的試驗(yàn)電壓等進(jìn)行綜合判斷。
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